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一文看懂OPTACOM輪廓粗糙度儀檢測校正流程

  OPTACOM輪廓粗糙度儀測量原理為直角坐標測量法,即通過X軸、Z1軸傳感器,測繪出被測零件的表面輪廓的坐標點,通過電器組件,將傳感器所測量的坐標點數(shù)據(jù)傳輸?shù)缴衔籔C機,軟件對所采集的原始坐標數(shù)據(jù)進行數(shù)學運算處理,標注所需的工程測量項目。
  OPTACOM輪廓粗糙度儀采用金剛石測針與被測件接觸掃描,實現(xiàn)被測件表面的坐標軌跡測量,獲得原始數(shù)據(jù),利用彈性支承結(jié)構(gòu)和電感式傳感器、自編的專用軟件、微電子技術(shù)通過計算機最終實現(xiàn)數(shù)據(jù)采集、數(shù)據(jù)計算、操作控制、綜合分析、計算、處理,達到粗糙度和輪廓形狀的相關(guān)參數(shù)測定,對測定結(jié)果進行數(shù)據(jù)和圖像顯示、存儲、打印輸出和發(fā)送。
  OPTACOM輪廓粗糙度儀采用光機電算結(jié)合達到驅(qū)動箱上下有控自動移動,觸針可根據(jù)與被測件的接近程度快速和慢速變化左右移動速度實現(xiàn)接觸定位,按程序操作保證觸針不受沖擊傷害。
  OPTACOM輪廓粗糙度儀檢測校正流程:
  1.在粗糙度測量畫面中,單擊菜單的“校正”并選擇其中的“校正”,按校正步驟進行校正。
  2.選擇探針為“通常使用的探針”→選擇校正方法為“利用標準片校正”→校正條件的標準值設(shè)定為標準片上的值3.21um,校正倍率選±128um→將標準片放置在水平調(diào)整臺上→執(zhí)行校正測量條件的設(shè)定:單擊“編輯”,選擇“基本條件”,測量速度選0.300mm/s,移動返回速度6.000mm/s,測量長度5λ,單擊濾波器,勾選“使λs有效”,“比”設(shè)300,波長設(shè)0.8mm,單擊去除形狀,選擇小二乘直線,確定并執(zhí)行測量。
  3.移動測針至下圖位置,點擊測量,將測量值與標準塊標識的值進行對比,差值在±5%之內(nèi)即為測針可用。如果大于±5%,需分析測量出的曲線圖(縱橫放大倍率分別為2萬和2千倍),觀察波峰波、谷是否清楚,波峰是否尖銳,否則表示測針磨損或損壞。
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